簡(jiǎn)要描述:本實(shí)驗設備采用微電流源為PN結供應正向電流,并通過(guò)調整電流大小,獲取PN結兩端的正向壓降值。同時(shí),本設備配備了溫度控制系統,用于測量在不同溫度條件下PN結的伏安特性曲線(xiàn)。通過(guò)對PN結電壓、電流與溫度之間關(guān)系的深入研究,我們可以獲得玻爾茲曼常數k、靈敏度S以及硅材料的禁帶寬度等重要參數。
產(chǎn)品分類(lèi)
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品牌 | TP/拓普 | 應用領(lǐng)域 | 電氣 |
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一、實(shí)驗內容
1.在室溫下,測繪PN 結正向電壓隨正向電流的變化曲線(xiàn),求得玻爾茲曼常數;
2.在不同溫度下,測繪PN 結正向電壓隨正向電流的變化曲線(xiàn),求得玻爾茲曼常數;
3.恒定正向電流條件下,測繪PN 結正向壓降隨溫度的變化曲線(xiàn),計算結電壓隨溫度變化的靈敏度。
4.計算在0K時(shí)半導體(硅)材料的禁帶寬度。
二、儀器特點(diǎn)
1.運用數字化編碼器進(jìn)行精確調節,確保穩定性。
2.通過(guò)按鍵輕松切換測量范圍,操作便捷,讀數準確。
3.采用P1D調節溫控,實(shí)現快速且穩定的溫度調節。
三、規格參數
1.恒流源:電流輸出范圍:10nA—10mA;分辨率1nA;3位半數顯;
2.電壓表:量程:0-2.000V;3位半數顯
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