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二氧化硅的紅外光譜測定

簡(jiǎn)要描述：紅外光譜測定二氧化硅的方法通常涉及將樣品制備成適當的形式，如固體薄片、顆?；蛉芤?，并利用紅外光譜儀進(jìn)行測量。儀器通過(guò)向樣品施加紅外輻射，測量經(jīng)過(guò)樣品后未被吸收的光的強度變化。

  • 產(chǎn)品型號：FTIR920
  • 廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家
  • 更新日期：2025-04-29
  • 訪(fǎng)  問(wèn)  量：3500

詳細介紹

品牌TP/拓普信噪比15,000：1（RMS值,在2100 cm-1附近,4 cm-1分辨率,1分鐘
掃描速度2mm/S秒分辨率1.0cm-1
波數范圍7800-375cm-1儀器類(lèi)型實(shí)驗室型
價(jià)格區間15萬(wàn)-20萬(wàn)儀器種類(lèi)傅立葉變換型（FT)
應用領(lǐng)域醫療衛生,化工,建材/家具,電子/電池,制藥/生物制藥
　　二氧化硅是一種重要的無(wú)機材料，在紅外光譜分析中具有廣泛的應用。紅外光譜是通過(guò)測量物質(zhì)在紅外輻射區域的吸收和散射來(lái)研究其分子結構和化學(xué)特性的一種方法。
　　二氧化硅的紅外光譜測定主要基于其分子振動(dòng)模式引起的吸收峰。在紅外光譜圖上，常見(jiàn)的吸收峰包括伸縮振動(dòng)、彎曲振動(dòng)和對稱(chēng)拉伸振動(dòng)等。
　　二氧化硅的主要吸收峰位于1000-1200cm^-1的區域，這些峰代表了硅氧鍵的伸縮振動(dòng)。此外，還存在于800-1100cm^-1范圍內的Si-O-Si彎曲振動(dòng)峰。這些振動(dòng)模式提供了關(guān)于二氧化硅的分子結構和鍵合情況的信息。
　　FTIR920的軟件
　　視窗軟件隨整套系統一并提供。此軟件能滿(mǎn)足全部標準分析的要求，包括光譜數據處理、儀器控制、多圖同時(shí)預覽。在干涉圖或光譜的分析模型上，也能提供濾波、基線(xiàn)校正、交互編輯和數據操作。同時(shí)也有光譜扣除、混合扣除、濾波衍生、譜圖預覽等功能。數據輸入和輸出可以是ASCII 或JCAMP格式。其他包括Thermo/Galactic GRAMS在內的商業(yè)程序也可以使用，例如圖庫搜索。Interspec軟件程序是在32位保護模式下編寫(xiě)的。我們?yōu)椴煌δ艿膽迷O計了專(zhuān)門(mén)的軟件，這些軟件操作簡(jiǎn)便而且免費提供。通過(guò)添加其他商業(yè)程序，比如：搜索、成份識別、Kramers Kronig變換、化學(xué)統計等，對程序的功能進(jìn)行擴展,從而滿(mǎn)足個(gè)別需求。
二氧化硅的紅外光譜測定
二氧化硅的紅外光譜測定



 　　二氧化硅的紅外光譜測定的方法通常涉及將樣品制備成適當的形式，如固體薄片、顆?；蛉芤?，并利用紅外光譜儀進(jìn)行測量。儀器通過(guò)向樣品施加紅外輻射，測量經(jīng)過(guò)樣品后未被吸收的光的強度變化。
 
　　在進(jìn)行紅外光譜測定時(shí)，需要注意一些因素。首先，樣品應該足夠純凈，以避免其他雜質(zhì)對光譜結果的影響。其次，在選擇紅外輻射源和檢測器時(shí)，應根據所需的波長(cháng)范圍和靈敏度進(jìn)行合理選擇。此外，還需要校準儀器，并使用適當的參考物質(zhì)進(jìn)行光譜數據的分析和解釋。
 

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